NEU

Teil der Reihe: Engineering (R0)

Semiconductor Power Devices

Volume 2: Packaging, Thermal aspects, Reliability and Ruggedness
Angebot€213,99
inkl. MwSt. • Kein physischer Versand
Sofort per Download lieferbar
Ihr Downloadlink kommt direkt per E-Mail.
PDF: lesbar auf Smartphone, Tablet, Computer und in vielen PDF-Apps.

E-Book
eBook-Format: PDF
✓14 Tage Widerrufsrecht
✓Sicher bezahlen – auch auf Rechnung mit Klarna
PayPal Klarna Visa Mastercard Maestro Apple Pay Google Pay
Inhaltsangabe

1. The Challenge of Packaging Technology.- 2. Package Types.- 3. Conventional Capsules.- 4. IGBT Presspacks.- 5. The TO-Family and Its Relatives.- 6. GaN Device Packages.- 7. Physical Properties of Materials.- 8. Thermal Simulation and Thermal Equivalent Circuits.

Produktdetails
  • Erscheinungsdatum: 10.11.2026
  • Autor/Autorin: Josef Lutz,Heinrich Schlangenotto,Uwe Scheuermann,Rik DeDoncker
  • Reihe: Engineering (R0)
  • Format: E-Book
  • Dateiformat: PDF
  • Kopierschutz: Wasserzeichen
  • Dateigröße: 43.4 MB
  • Auflage: Third Edition 2026
  • Verlag: SPRINGER
  • Sprache: Englisch
  • Umfang: 361 Seiten
  • ISBN: 9783032234896
  • Lieferung: Sofort per Download
  • Hinweis: Sofort per Download lieferbar. Kein physischer Versand.
  • Kompatibilität: Lesbar auf Geräten und Apps mit PDF-Unterstützung.
Darum lohnt sich dieses Buch

Comprehensive guide to advanced packaging and cooling for Si, SiC, and GaN power devices Detailed reliability testing methods and failure analysis for next-generation power semiconductors Covers electromagnetic disturbances and system integration for robust power electronics design

Herstellerinformationen
Springer Nature Customer Service Center GmbH

Email: ProductSafety@springernature.com