Teil der Reihe: Engineering (R0)
Semiconductor Power Devices
Volume 2: Packaging, Thermal aspects, Reliability and Ruggedness
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Inhaltsangabe
1. The Challenge of Packaging Technology.- 2. Package Types.- 3. Conventional Capsules.- 4. IGBT Presspacks.- 5. The TO-Family and Its Relatives.- 6. GaN Device Packages.- 7. Physical Properties of Materials.- 8. Thermal Simulation and Thermal Equivalent Circuits.
Produktdetails
- Erscheinungsdatum: 10.11.2026
- Autor/Autorin: Josef Lutz,Heinrich Schlangenotto,Uwe Scheuermann,Rik DeDoncker
- Reihe: Engineering (R0)
- Format: E-Book
- Dateiformat: PDF
- Kopierschutz: Wasserzeichen
- Dateigröße: 43.4 MB
- Auflage: Third Edition 2026
- Verlag: SPRINGER
- Sprache: Englisch
- Umfang: 361 Seiten
- ISBN: 9783032234896
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Darum lohnt sich dieses Buch
Comprehensive guide to advanced packaging and cooling for Si, SiC, and GaN power devices Detailed reliability testing methods and failure analysis for next-generation power semiconductors Covers electromagnetic disturbances and system integration for robust power electronics design
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Email: ProductSafety@springernature.com
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Semiconductor Power Devices
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