Teil der Reihe: Engineering (R0)
Reliability of CMOS Analog ICs
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Inhaltsangabe
Introduction.- The reliability model for PMOS and NMOS transistors based on statistical methods.- Demonstration of Proposed Method with Application Examples.- On the degradation of OTA-C–based CMOS low-power filter circuits for biomedical instrumentation.- Power MOSFET degradation and statistical investigation of the degradation effect on DC-DC converters and converter parameters.
Produktdetails
- Erscheinungsdatum: 12.06.2025
- Autor/Autorin: Hakan Kuntman,Deniz Özenli,Firat Kaçar,Yasin Özçelep
- Reihe: Engineering (R0)
- Format: E-Book
- Dateiformat: PDF
- Kopierschutz: Wasserzeichen
- Dateigröße: 6.7 MB
- Verlag: SPRINGER
- Sprache: Englisch
- Umfang: 100 Seiten
- ISBN: 9783031854552
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- Kompatibilität: Lesbar auf Geräten und Apps mit PDF-Unterstützung.
Herstellerinformationen
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