Teil der Reihe: Mechanical Engineering (R0)

Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing

Name: Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing
Brand: Wei-Ting Kary Chien
SKU: 9783032231901
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Inhaltsangabe

Part I. Build-In Reliability.- The IC Industry.- Quality & Reliability Activities in the IC Lifecycle.- The BIR Framework.- The Enriched BIR (eBIR).- Implementation of the BIR Framework.- Key Takeaways.- Part II. Completeness.- Team Players on Semiconductor Quality & Reliability.- Quality Engineering in Semiconductor Manufacturing.- Quality & Reliability Training.- Key Takeaways.- Part III. Timeliness.- Early Detections.- Baseline Management.- Using Wafer-Level Tests instead of PLR Tests.- IC Evaluations and Qualifications.- Key Takeaways.- Applying AI Techniques in Semiconductor Manufacturing.- Advanced Packaging.- Prognostics and Health Management.- DEI & Globalization.- Key Takeaways.- Appendix.- Index.

Produktdetails

Erscheinungsdatum: 05.08.2026
Autor/Autorin: Wei-Ting Kary Chien,Way Kuo
Reihe: Mechanical Engineering (R0)
Format: E-Book
Dateiformat: PDF
Kopierschutz: Wasserzeichen
Dateigröße: 47 MB
Verlag: SPRINGER
Sprache: Englisch
Umfang: 506 Seiten
ISBN: 9783032231901
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