
Teil der Reihe: Chemistry and Material Science (R0)
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
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Inhaltsangabe
Introduction to oxide thin films and context.- Laboratory-based x-ray diffraction techniques for thin films.- Synchrotron techniques to map ferroelectric domain structures including superlattices.- Coherent X-ray methods.- Magnetic scattering and dichroism techniques.- Probing oxygen octahedra and weak ordering phenomena.- Time-resolved x-ray scattering techniques.- Future developments and perspectives.
Produktdetails
- Erscheinungsdatum: 11.08.2025
- Autor/Autorin: Daniel Sando
- Reihe: Chemistry and Material Science (R0)
- Format: E-Book
- Dateiformat: PDF
- Kopierschutz: Wasserzeichen
- Dateigröße: 15 MB
- Verlag: SPRINGER
- Sprache: Englisch
- Umfang: 186 Seiten
- ISBN: 9789819659456
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- Kompatibilität: Lesbar auf Geräten und Apps mit PDF-Unterstützung.
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