X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

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Inhaltsangabe

Introduction to oxide thin films and context.- Laboratory-based x-ray diffraction techniques for thin films.- Synchrotron techniques to map ferroelectric domain structures including superlattices.- Coherent X-ray methods.- Magnetic scattering and dichroism techniques.- Probing oxygen octahedra and weak ordering phenomena.- Time-resolved x-ray scattering techniques.- Future developments and perspectives.

Produktdetails
  • Erscheinungsdatum: 11.08.2025
  • Autor/Autorin: Daniel Sando
  • Reihe: Chemistry and Material Science (R0)
  • Format: E-Book
  • Dateiformat: PDF
  • Kopierschutz: Wasserzeichen
  • Dateigröße: 15 MB
  • Verlag: SPRINGER
  • Sprache: Englisch
  • Umfang: 186 Seiten
  • ISBN: 9789819659456
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  • Kompatibilität: Lesbar auf Geräten und Apps mit PDF-Unterstützung.
Herstellerinformationen
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