Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure

Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM erzielbaren Auflösungen in Brüchen und Oberflächenstrukturen lassen die Mechanik der Schädigungsvorgänge deutlicher erkennen. In Verbindung mit den Untersuchungsergebnissen über die chemische Zusammensatzung von Werkstoffen und Belägen können weitere Aufschlüsse über Schädigungsmechanismen gewonnen werden. Diese umfangreiche Sammlung von REM Aufnahmen und ihren Beschreibungen ist ein wertvolles Hilfsmittel für den Ingenieur im Betrieb, der Ursachen von Schäden auffinden und sein spezielles REM Schadensbild einordnen will. Die Erscheinungsformen der Schädigungen sind ausführlich dargestellt und werden sachgerecht beschrieben und interpretiert.

• Erscheinungsdatum: 04.11.2010
• Autor/Autorin: Gottfried W. Ehrenstein,Lothar Engel,Hermann Klingele,Helmut Schaper
• Einband: Hardcover
• Auflage: 1
• Verlag: Hanser, Carl
• Sprache: Deutsch
• Größe (L/B/H): 276/202/18 mm
• Seitenanzahl: 280
• ISBN: 9783446422421

Carl Hanser Verlag GmbH & Co.KG
Vilshofener Straße 10
81679 München
DE

Email: info@hanser.de